| 序号 | 采购项目名称 | 意向编号 | 采购品目 | 采购需求概况 | 预算金额(万元) | 预计采购日期 | 备注 |
| 1 | 高重频大能量飞秒激光器 | YX(略) | A(略)激光仪器 | 拟采购高重频大能量飞秒激光器1台,是优质飞秒激光光源是开展飞秒及阿秒光学研究的前提条件。该设备具有优良的性能,完全可以支持飞秒及阿秒非线性光学等研究的顺利开展。中心波长:(略) | (略) | (略)年(略)月 | 无 |
| 2 | 一体化集成电路 ATE测试系统 | YX(略) | A(略)集成电路参数测量仪 | Pattern,最大采样率(略)MS/s;5、8通道GPIO,5V TTL输入电平,3.3V LVTTL输出电平;6、4通道示波器,(略)MHz带宽,1GS/s采样率,分辨率8bits;7、2通道任意波形发生器,频率(略)MHz,分辨率(略)bits;8、包含数字万用表功能,分辨率5?,最大电压(略)V;9、包含可编程直流电源功能,电压范围6V/±(略)V,最大电流1A;(略)、内置高性能X(略)处理器,预装Win(略)操作系统,搭载(略).3寸触控屏幕;(略)、包含触摸交互侧屏,支持实验对应的教学知识点原理动画或视频展示以及实验原理、实验操作及结果记录等指导图文展示;(略)、支持互联网远程访问和控制,学生实验过程记录及评价;(略)、配套专用半导体参数测试软件和集成电路芯片测试软件,提供可自由配置仪器参数功能的软面板,支持测量曲线和参数数据的完整展示和查看;(略)、支持LabVIEW、C和Python开发;(略)、提供4种真实芯片(ADC芯片、运算放大器芯片、(略)系列芯片、Memory芯片)的待测件;(略)、搭载面包板,配套实验线缆、实验对象板卡、完整的实验指导书和实验代码, | (略) | (略)年(略)月 | |
| 3 | 双光子高精度三维直写光刻系统 | YX(略) | A(略)工艺试验机 | 拟购双光子高精度三维直写系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 4 | 铪基铁电薄膜原子层沉积系统 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购铪基铁电薄膜原子层沉积系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 5 | 中大规模芯片检测分析平台 | YX(略) | A(略)集成电路参数测量仪 | 单、双、四运放的原理及硬件集成;数字资源集电压源、电流源、IVR测量、同步信号触发、数据采集器功能一体;高精密数字板,测量范围+(略)V至-(略)V,+(略)mA至-(略)mA;精度满量程0.5%,全量程电压纹波小于1mV;定时边沿分辨率5nS,图形存储深度均不低于1M。驱动比较波形周期分辨率5nS;频率涵盖0~(略)KHz,频率准确度在±0.5%以内;测试IC直流参数,可以提供加压测流、加流测压的工作方式具有全量程电压箝位保护功能电压档位:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 6 | 铁电存储器离子束刻蚀系统 | YX(略) | A(略)工艺试验机 | 拟购铁电存储器离子束刻蚀系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 7 | 介电功能材料综合测试系统 | YX(略) | A(略)敏感元件、磁性材料、电感元件测量仪 | 拟购介电功能材料综合测试系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 8 | 高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| 9 | 激光脉冲分子束外延 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购激光脉冲分子束外延1台。主要规格参数:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 湿法化学清洗站 | YX(略) | A(略)其他化学药品和中药设备 | 拟购湿法化学清洗站1套。主要规格参数:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 二氟化氙气体刻蚀系统 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购二氟化氙气体刻蚀系统1套。主要规格参数:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 高速实时示波器 | YX(略) | A(略)记录电表、电磁示波器 | 拟购高速示波器1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 矢量网络分析仪 | YX(略) | A(略)网络特性测量仪 | 拟购矢量网络分析仪1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 频谱分析仪 | YX(略) | A(略)其他分析仪器 | 频谱分析仪1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | (略)寸半自动晶圆探针台及测试系统 | YX(略) | A(略)半导体器件参数测量仪 | 拟购(略)寸半自动晶圆探针台及测试系统1套。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 存储芯片FT测试自动化分选机 | YX(略) | A(略)自动成套控制系统 | 拟购存储芯片FT测试自动化分选机1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 无液氦综合物性测量系统 | YX(略) | A(略)物理特性分析仪器及校准仪器 | 拟购无液氦综合物性测量系统1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 三维光学轮廓仪 | YX(略) | A(略)光学测试仪器 | 拟购三维光学轮廓仪1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 霍尔效应测试仪 | YX(略) | A(略)半导体器件参数测量仪 | 拟购霍尔效应测试仪1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 高真空多靶共聚焦溅射台 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购6英寸高真空多靶共聚焦溅射台2套主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 原子层沉积系统 | YX(略) | A(略)真空应用设备 | 拟购原子层沉积系统1套主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 相变材料测试仪 | YX(略) | A(略)电子元件参数测量仪 | 拟购相变材料测试仪1台主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |
| (略) | 晶圆键合机 | YX(略) | A(略)其他试验仪器及装置 | 拟购晶圆键合机1台。主要技术指标:(略) | (略) | (略)年(略)月 | |